X-Işın Floresans Spektroskopi

X-Işını Flöresans Spektroskopi

X ışını flöresans analizi (XRF) her çeşit numunede, sıvı, katı ve toz farkı olmadan elemental analiz yapmak için kullanılan en iyi analitik tekniklerden birisidir. XRF basit ve hızlı numune hazırlığıyla Beriyumdan (Be) Uranyuma (U) kadar olan element konsantrasyonlarını %100 ppm seviyesinin altında yüksek kesinlik ve doğruluk oranıyla vermektedir. X-ışınları Flöresans (XRF) spektroskopisi elementel kompozisyonu belirlemede kullanılan önemli yöntemlerden biridir. Hızlı, duyarlı, kullanım kolaylığı ve malzemeye zarar özellikleri göz önüne alındığında teknolojik ve bilimsel araştırmadaki önemi daha da artmaktadır. X-ışınları flöresans tekniği, genel olarak foton-madde etkileşmesi sonucu meydana gelen karakteristik X-ışınları ve saçılma fotonlarının nicel ve nitel değerlendirilmesine bağlı olarak uygulanan bir tekniktir. XRF cihazları temel olarak 2 farklı ölçüm prensibi kullanırlar. EDXRF (Enerji Dağılımı XRF) olarak adlandırılan sistemler analiz edilen örnekten elde edilen X ışınlarının enerjisini hesaplayarak elementleri tayin ederken gelen ışınları da sayarak element miktarlarının belirlenmesini sağlarlar. Diğer XRF sistemi (WDXRF) ise örnekten elde edilen X ışınlarını önce özel kristallerde yansıttıktan sonra yansıma açılarını tespit ederek elementleri ve ışınları sayarak da miktarlarını belirler. Genel olarak EDXRF sistemlerinin hassasiyeti kullanılan dedektörün çözünürlüğüne, WDXRF sistemlerde ise hassasiyet, kullanılan X ışını tüpünün gücüne göre değişmektedir.

Araştırma Grubu: Prof. Dr. Elif Orhan

Yüksek Lisans Öğrencileri ve Tez Konuları

1- Gökçen Bilge Arkalı; “WD-XRF Spektrometresiyle Jeolojik Numunelerdeki Ana Oksitler Üzerine Matris Etkisinin Belirlenmesi”

2- Yasemin Özdemir; “Jeolojik Numunelerden Yayımlanan Karakteristik X-Işınları Üzerine Parçacık Büyüklüğü Etkisinin WD-XRF Spektrometresiyle Belirlenmesi”